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    射頻導納物位計工作原理及結構
    發布時間:2020-06-25 12:34:36

    射頻導納物位計是一種新型物位測量儀表,“導納”為電學中阻抗的倒數,它由阻性成分、容性成分、感性成分綜合而成,而“射頻”即高頻,因此射頻導納技術可以理解為用高頻測量導納。

    射頻導納物位計主要由檢測部分和變送部分組成,檢測部分包括探頭、保護套外殼等;變送部分包括振蕩緩沖電路、頻率變換及掛料處理電路、誤差修正放大器、信號解調器、調制驅動放大器、濾波阻尼環節、電壓限制及電壓電流轉換電路等。根據電橋原理,由于液位升高而增大的電容使電橋失去平衡,同時正比于電橋不平衡度的解調器輸出電壓,經濾波放大、輸出阻尼、電壓/電流轉換后,輸出與物位 成正比的4-20mA電流信號。無論是射頻電容物位計或射頻導納物位計都能準確測量介質的物位,但與普通射頻電容物位計相比,射頻導納物位計更適合測量料位,因為它可以較好地處理掛料對料位測量的影響。

    存放強導電性物料的容器,由于物料是導電的,接地點可以被認為在探頭絕緣層的表面,對變送器探頭來說僅表現為1只純電容;隨著容器排料,探桿上會產生掛料,而掛料具有阻抗,導致以前的純電容現在變成了由電容和電阻組成的復阻抗,從而引起測量誤差,這是由于掛料的電阻遠大于液體中的電阻而造成的,這種由電阻和電容組合而成的復合信號稱之為導納。射頻導納物位計增加了2個電路來解決檢測探頭掛料問題。


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